可程式凹凸温 SSD BIT老化试验箱可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测验，或用于PCB电路板、各类资料、电子科技类产品等进行凹凸温湿度老化测验。

  1)支撑多种SSD测验：面临不同SSD产品的测验只需替换测验板，当载有SSD产品的测验板刺进控制板时，控制板能够智能辨认刺进的SSD类型并装备成不同PCIe接口，能够重复使用测验，不需要从头规划，大大下降测验本钱；

  2)集成度高：选用模块化的工控机并以载板方式安装在控制板上，大幅度的提升了产品集成度，SSD测验环境和SSD检测一起在一个单元上完成；

  3)可长途操作：能够长途对方针测验单元下发各种测验指令，然后便利对工厂测验过程中或许遇到的各问题进行确诊；

  4)进步测验一致性：适用于SSD产品的各个测验阶段，包含工程师开发验证阶段，然后使测验的一致性得到确保，避免了由于替换不同测验设备导致的测验不一致。

  如有可程式凹凸温 SSD BIT老化试验箱选型疑问，能够拜访“环仪仪器”官网，咨询相关技术人员。

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